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चार-चतुर्थांश पिन एकल ट्यूब श्रृंखला

चार-चतुर्थांश पिन एकल ट्यूब श्रृंखला

आदर्श: GT111 / GT112 / GD3250Y / GD3249Y / GD3244Y / GD3245Y / GD32413Y / GD32414Y / GD32415Y

संक्षिप्त वर्णन:

डिवाइस एक ही इकाई के साथ चार सिलिकॉन पिन फोटोडायोड है, रिवर्स बायस की स्थिति के तहत काम कर रहा है, वर्णक्रमीय प्रतिक्रिया दृश्य प्रकाश से निकट-अवरक्त तक होती है, शिखर प्रतिक्रिया तरंग दैर्ध्य 980nm है, और 1064nm पर प्रतिक्रिया 0.5A तक पहुंच सकती है। / डब्ल्यू।


  • f614effe
  • 6dac49b1
  • 46बीबीबी79बी
  • 374क78ग3

तकनीकी मापदण्ड

विशेषताएँ

आवेदन

उत्पाद टैग

फोटोइलेक्ट्रिक विशेषताओं (Ta22±3)

नमूना

GT111

GT112

GD3250Y

GD3249Y

GD3244Y

GD3245Y

GD32413Y

GD32414Y

GD32415Y

पैकेज फॉर्म

को-8

को-8

को-8

टू-20

कश्मीर-31-7

कश्मीर-31-7

एमबीसीवाई026-पी6

को-8

MBCY026-W7W

संवेदनशील सतह का आकार (मिमी)

Φ4

Φ6

Φ8

Φ10

Φ10

Φ16

Φ14

Φ5.3

Φ11.3

वर्णक्रमीय प्रतिक्रिया रेंज (एनएम)

400 ~ 1100

400 ~ 1100

400 ~ 1100

400 ~ 1100

400 ~ 1100

400 ~ 1100

400 ~ 1100

400 ~ 1150

400 ~ 1150

पीक प्रतिक्रिया तरंग दैर्ध्य (एनएम)

980

980

980

980

980

980

980

980

980

जवाबदेही λ=1064nm(A/W)

0.3

0.3

0.3

0.3

0.4

0.4

0.4

0.5

0.5

डार्क करंट (nA)

5(वीR=40V)

7(वीR=40V)

10(वीR=40V)

15(वीR=40V)

20(वीR=135V)

50(वीR=135V)

40(वीR=135V)

4.8(वीR=140V)

≤20 (वीR=180V)

उठने का समय = 1064 एनएम आरएल = 50Ω (एनएस)

15(वीR=40V)

20(वीR=40V)

25(वीR=40V)

30(वीR=40V)

20(वीR=135V)

30(वीR=135V)

25(वीR=135V)

15(वीR=140V)

20(वीR=180V)

जंक्शन क्षमता f=1MHz(pF)

5(वीR=10वी)

7(वीR=10वी)

10(वीR=10वी)

15(वीR=10वी)

10(वीR=135V)

10(वीR=135V)

16(वीR=135V)

4.2 (वीR=140V)

10(वीR=180V)

ब्रेकडाउन वोल्टेज (वी)

100

100

100

100

300

300

300

≥300

≥250

कम गहरा करंट

उच्च जवाबदेही

अच्छा चतुर्भुज संगति

छोटा अंधा स्थान

लेजर लक्ष्य, मार्गदर्शन ट्रैकिंग और अन्वेषण उपकरण

लेजर माइक्रो-पोजिशनिंग, विस्थापन निगरानी और अन्य सटीक माप प्रणाली


  • पहले का:
  • अगला:

  • कम गहरा करंट

    उच्च जवाबदेही

    अच्छा चतुर्भुज संगति

    छोटा अंधा स्थान

    लेजर लक्ष्य, मार्गदर्शन ट्रैकिंग और अन्वेषण उपकरण

    लेजर माइक्रो-पोजिशनिंग, विस्थापन निगरानी और अन्य सटीक माप प्रणाली